近赤外線イメージングと
デュアルバンドカメラの
技術解説
近年注目度が高い近赤外線（SWIR）を用いた検査や選別。
本ウェビナーでは、SWIRイメージングの特長に加え、
デュアルバンドカメラならではの利点をご紹介します。
本セミナーは、事前登録の上無料でご参加いただけます。
シーマイクロウェブセミナー（第２回）
開催日：７月８日（木）
午前１１時〜１１時４０分
実施形式：Zoom Webinarにて配信
講演者
可視光、SWIRのラインスキャンカメラの専門家である弊社製品開発エンジニアが、皆さまに直接ご説明し、質問にお答えします。
第一開発部
城戸 鷹秋
2019年入社
カメラのソフトウェア開発、設計を担当
開発部グループマネージャ
渡邊 謙二郎
2005年入社
ラインスキャンカメラを中心とする産業用カメラの
ハードウェア開発、設計を担当
セミナー対象者
このセミナーは、現在可視光による検査で課題をお持ちの方、
SWIRによる検査の導入を検討している方を対象としています。
可視光では解決できなかった課題が、SWIRによる検査により解決できる
可能性があります。さらに2センサのデュアルバンドのカメラを
用いることにより、より精度の高い検査が可能となります。
本ウェビナーでは、SWIRイメージングの特長とデュアルバンドカメラの利点を
現役の弊社エンジニアがわかりやすく解説し、質問にお答えします。
生産工程で品質管理を担当されている方
検査装置や選別機の
開発や設計を担当されるいる方
可視光のカメラで検査を行っていて、課題を抱えている方
01
SWIRイメージングの
特長
02
SWIRによる検査とデュアルバンドカメラの利点
03
弊社デュアルバンドカメラ (NDB100H）のご紹介
04
今後の展開の可能性
05
質疑応答
